鍍層膜厚儀是用于專業測量金、鎳、銅等鍍層厚度的標準儀器。其工作原理基于磁感應或X射線熒光等原理，可精確測量探頭與鍍層間的距離，具有測量精確、操作簡便等優點，廣泛應用于工業制造、建筑材料、航空航天等領域。

產品型號：iEDX-150WT
廠商性質：代理商
更新時間：2025-01-10
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產品詳情/ PRODUCT DETAIL

標題：鍍層膜厚儀

產品概述

鍍層膜厚儀產品圖片：

鍍層膜厚儀是使用在材料表面檢測膜層厚度和復合材料的厚度的儀器。它利用一種叫做“干涉測量”技術的原理進行測量。當光線照射在材料表面時，一部分光會反射回來，一部分會穿過膜層并被底部反射。反射光線之間的差距將導致干涉現象。如果我們知道涂層材料的折射率，我們就可以計算出膜層厚度的值，從而確定膜層是否符合要求。

配置及技術指標：

1. X 射線管：高穩定性 X 光光管，微焦點 X 射線管、Mo (鉬) 靶鈹窗口，陽極焦斑尺寸 75um，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽。50kV，1mA。高壓和電流設定為應用程序提供良好性能。

2. 探測器：SDD 探測器(可選Si-Pin)能量分辨率：125±5eV(Si-Pin:159±5eV)。

3. 濾光片/可選。

初級濾光片：Al濾光片，自動切換。

7個準直器：客戶可選準直器尺寸或定制特殊尺寸準直器。

使用特點：

1. 非接觸式測量，可以在不接觸目標表面的情況下進行測量，避免了對材料表面的污染或損傷。

2. 多種光學方法可以提供高精度和穩定的結果，測量精度可以達到micro1級。

3. 適用范圍廣，可以用于測量非金屬材料、有機材料和涂層材料的厚度。

4. 操作相對簡單，只需要進行一些簡單的校準和設置就能完成測量工作。

5. 實時監控：一些高級模型的鍍層膜厚可以實時地監控涂層的厚度變化，以便在必要時進行調整。

應用：

1. 金屬制造業：金屬制品中的涂層和貼附層的厚度可通過鍍層膜厚進行測量來保證其質量滿足要求。

2. 電子科技：半導體器件、微電子器件、薄膜太陽能電池等電子設備需要在生產過程中進行涂層和膜層的測量以保證其質量。

3. 耐用性測試：可用于檢測汽車漆層的耐久性、涂層的防腐蝕性能和其他工業涂層的性能。

4. 質量控制：通過實時監控涂層和膜層的厚度可以保證其質量一直處于最佳狀態。

5. 環境監測：可以用于測量和監測大氣、水、土壤和生物組織等環境中的化學物質的厚度。

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